K6-C涂层测厚仪内部配备了不同频率和晶片尺寸的探头，可以实现对不同材料的表面镀膜厚度测量，通过探头到零度校准和两点校准等功能进行自动的误差调整，同时，使用反测声速，来提升测量准确度。根据测量的材质不同而使用不同的测量方式。其中，常用的两种测量工作方式是磁感应测量和电涡流测量。
 

　　磁感应测厚方法主要用来测量导磁性材料上的非导磁镀层厚度，这种测量的方法准确度较高，通常用来测量钢、铁、银等导磁材料。当K6-C涂层测厚仪的探头与覆层接触时，探头会与磁性金属基体形成一个闭合的磁路，但是磁性金属表面的非磁性覆层将会阻碍磁路，从而发生磁阻变化，通过测量磁阻的变化量，就可以得到表面覆盖层的厚度。
 

　　影响K6-C涂层测厚仪测量结果的因素可能有：
 

　　1、覆盖层厚度大于25μm时，其误差与覆盖层厚度近似成正比；
 

　　2、基体金属的电导率对测量有影响，它与基体金属材料成分及热处理方法有关；
 

　　3、任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,，只有大于这个厚度，测量才不会受基体金属厚度的影响；
 

　　4、对试样测定存在边缘效应,，即对靠近试样样边缘或内转角处的测量是不可靠的；
 

　　5、试样的曲率对测量有影响，这种影响将随曲率半径的减小明显地增大；
 

　　6、基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度，粗糙度增大，影响增大。